併催企画

● 基調講演   参加無料

IoT時代の日本及び日本企業をどう方向性付ける
―モノ造り・モノ売りからオープン&クローズ・CPSの戦略へ―

デジタル技術やソフトウエアが価値形成を先導する21世紀に、世界の産業界が100年に一度とも言うべき転換期に立った。ITSは元より計量・計測や検査機器であっても、決して例外ではない。この延長にIoTやIndustrie4.0の時代が到来する。
本講演では、まず競争ルールの変化に適応できず市場撤退を繰り返す企業と勝ちパターンを再構築して大躍進する企業の違いをオープン&クローズの戦略思想から解き明かす。これを踏まえて第二に、競争ルールがグローバル市場の隅々で変わるIoTの時代であっても、モノ造りが得意な日本企業だからこそ構築できる新たな勝ちパターンの体系を、オープン&クローズの戦略思想とCPS(CyberPhysical System)の視点から提案したい。ここから皆さんと一緒に日本型インダストリーの方向性を再構築したい。

小川 紘一 氏

小川 紘一 東京大学 政策ビジョン研究センター シニア・リサーチャー

(略歴)
1973年、富士通研究所入社。研究部長を経て、富士通のビジネス部門へ移籍。事業部長、理事を経て、2004年から東京大学大学院経済研究科ものづくり経営研究センター特任研究員、2008年から東京大学総括プロジェク ト機構、知的資産経営総括寄付講座、特任教授を経て、2013年4月から上記の現職。


2016年9月28日(水) 13:30~15:00
会 場: 東京ビッグサイト 会議棟1F レセプションホールA
聴講料: 無料  聴講者: 300名

基調講演お申込み

● 新技術・新製品セミナー/アカデミックセミナー

※聴講をご希望の方は、直接会場へお越しください。(申込不要・聴講無料)

検査業界の最新動向・技術を紹介する無料セミナー
会期:9月28日(水)~30日(金) 会場:「JIMA2016」内特設会場B
9月28日(水)

10:30~11:15

日本電気(株)

「検査機器と人工知能の融合・連携」

講演者:中村 暢達 氏

11:30~12:15

(株)ニコン

「車載向け電子部品の非破壊検査」

講演者:河井 章利 氏

12:45~13:15

岡山大学大学院自然科学研究科 塚田研究室

「鋼構造物の磁気を用いた非破壊検査」

A講演者:塚田 啓二 氏

13:30~14:15

電子磁気工業(株)

「電位差法による焼入れ深さ計測アルゴリズム開発および焼入れ深さ測定の実例報告」

講演者:(国研)産業技術総合研究所 笹本 明 氏、電子磁気工業(株) 横山 望 氏

14:30~15:15

GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ(株)

「GEにおけるCT生産品質管理ソリューション」

講演者:小清水 良多 氏

15:30~16:15

ペリージョンソンラボラトリー アクレディテーション インク

「ISO17025における試験と校正の不確かさについて」

講演者:國富 佳夫 氏

9月29日(木)

10:30~11:00

群馬大学

「ハーバート硬さ試験機の改良」

A講演者:鈴木 良祐 氏、鏑木 哲志 氏、松原 雅昭 氏

11:30~12:15

(株)ケン・オートメーション

「非破壊検査・表面検査 各種事例」

講演者:高尾 邦彦 氏

12:45~13:15

東京工業大学

「X線CT/透過計測による多孔質内の流れ・濃度場の可視化解析」

A講演者:植村 豪 氏

13:30~14:15

ポニー工業(株)

「新商品の紹介」

講演者:金井 大樹 氏

14:30~15:15

GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ(株)

「次世代ポータブル超音波PA 装置の実用性」

講演者:松園 真一 氏

15:30~16:15

エクスロン・インターナショナル(株)

「新機能ヘリカルCTスキャン ~更なる利便性/ 多様性を求めて~」

講演者:栃沢 洋光 氏

9月30日(金)

10:30~11:15

日本電気(株)

「検査機器と人工知能の融合・連携」

講演者:中村 暢達 氏

11:30~12:15

(株)島津製作所

「産業用X線CTの歴史、基礎から応用をアプリケーションを中心に最新モデルを詳しく説明致します。」

講演者:岩本 剛 氏

12:45~13:15

(国研)産業技術総合研究所 計量標準総合センター

「リークディテクタ校正の基準となる漏れの国家標準の確立」

A講演者:新井 健太 氏、吉田 肇 氏、小畠 時彦 氏

13:30~14:15

日本マテック(株)

「超音波PAの次の技術、SAFT・開口合成」

講演者:松島 勤 氏

14:30~15:15

GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ(株)

「IOTソリューション適用事例-Predix」

講演者:田邊 悟 氏

15:30~16:15

(株)リガク

「メッキ厚測定や異材判別などへの携帯型成分分析計の応用」

講演者:齋藤 庸一朗 氏

※アカデミックセミナー… A

● 主催者企画

JIMAプラザ

JIMA(日本検査機器工業会)では、業界の健全な発展と振興、さらにはよりよいユーザーへのサービス強化を目指した様々な活動を行っています。JIMAプラザではこれらの活動成果の一部をご紹介し、より多くの方にご理解頂けるように技術セミナーと3つのコーナーを設けたプラザを開設いたします。

アカデミックコーナー

大学・研究機関による最新研究成果の発表コーナーです。

日本溶接構造専門学校

日本溶接構造専門学校の紹介

岡山大学大学院自然科学研究科塚田研究室

高感度磁気探傷装置

群馬大学

ハーバート硬さ試験機

東京工業大学

多孔質内物質輸送現象のX線可視化計測

(地独)北海道立総合研究機構 工業試験場
北海道大学 環境機能マテリアルエ学研究室

X線CTを用いたコンクリート中のひび割れ・気泡の3次元評価技術の開発

(公財)電磁材料研究所

多チャンネル2次元アレイ型磁気センサモジュールによるリチウムイオン電池の欠陥検査システム、および、超小型・高耐荷重3軸力覚センサを用いた靴底センサシステム

東京大学大学院 工学系研究科精密工学専攻 鈴木・大竹研究室

X線CTスキャンの高度利用を目指した形状処理ソフトウェア技術

日本大学理工学部電気工学科 音波応用・環境工学研究室

強力空中超音波を利用した非接触非破壊検査システム

(国研)産業技術総合研究所 幾何標準研究グループ

幾何学測定のためのX線CT装置の開発

(国研)産業技術総合研究所 圧力真空標準研究グループ

リークディテクタ校正の基準となる漏れの国家標準の確立

日本非破壊検査協会 教育A専門委員会

IoTを利用したAE試験

PLコーナー

より信頼性の高い品質管理のもとで製造された検査機器を提供できるように、製造者のPL認識を高めようと安全ガイドブックを作成したり、PLシールを製作し、会員にのみ販売しています。

試験片コーナー

検査に重要な試験片を供給しています。JIS 規格でありながら市販されていないものの製作・販売、入手しにくい海外規格品の輸入・販売。規格がないものは設計・規格化から行っています。

  • X線用解像度チャート: サブミクロンの分解能確認用試験片
  • 食品異物検査用の様々な材質、寸法の異材基準試験片
  • 磁粉探傷試験用海外規格試験片 ― ASTM 、ISO
  • 浸透探傷用規格試験片 ― JIS 、ISO
  • 渦流探傷用試験片 ― JIS 、JIMA
  • 超音波探傷用イージーチェッカー ― JIMA

実機展示

「配管内検査ロボット」

立命館大学 理工学部 ロボティクス学科
生物知能機械学研究室

「イチゴの高品質出荷を実現する
非接触外観および品質検査ロボット」

宇都宮大学大学院 工学研究科
システム創成工学専攻 尾崎研究室

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